半导体器件静态特性综合试验台

  • 发布时间:2023-03-18 13:45:52,加入时间:2019年06月26日(距今1783天)
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一、概述

DBC-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合1. 该测试系统是一套静态综合的测试系统,综合测试参数多,技术水平较高。

3. 该系统是一套静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计较为复杂

5. 该系统采用计算机记录测试,并可将测试转化为6. 该测试系统是半导体器件检验测试中不可缺少的专用测试设备。

1) 门极触发参数测试单元

3) 通态电压参数测试

5) 计算机控制系统

1. 阻断电压(DRMV200—6000V,分辨率  分两档:10V,准确度±3%±10V

10V,准确度±3%±10V

(I\I): 

1-99mA

计算机设定测试时断态/反向峰值电流的保护电流的数值。

50H5. 测试方式:手动测试方式;

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