6ES7414-2XK05-0AB0全新现货促销

 

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功能与参数测试 

 

1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不 

 

能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等. 

 

2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无 

 

法查出它的上升与下降沿的速度. 

 

四.晶体振荡器 

 

1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量, 

 

否则只能采用代换法了. 

 

2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电 

 

容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出. 

 

3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关 

 

芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点. 

 

4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随 

 

意短路.