关键词：镀层厚度 镀层成分分析 样品表面污点分析 库伦法 金相法 涡流法 X射线荧光法 电子探针 能谱分析仪 异物分析 SGS针对镀层方面提供全面的检测服务 镀层厚度测试方法主要是库伦法，金相法，涡流测量法和X射线荧光法 库伦法 测量范围：0-35um误差为±10% 精度：0.01um 适用范围：可测量一层镀层金属厚度、多层镀层金属厚度、多层镍厚度和电位差、合金镀、塑料上各种电镀金属，表面光滑，最少有3mm²的平坦测试面 常用测试标准：ASTM B764-04(2009)、ASTM B504-90(2011)、GB/T 、ISO 金相法 测量范围：1-100um 精度：0.1um 适用范围：对样品尺寸没有太大的要求 常用测试标准：GB/T 、ASTM B(R2013)、ISO 、EN ISO 、 JIS H、AS 2331.1.1-2001 涡流测量法 测量范围：0.5-200um 精度：0.1um 适用范围：可测量样品涂、镀层的厚度，样品要求表面平整，测试面相当平，误差就小 常用测试标准：GB/T 、ASTM D X射线荧光XRF 精度：0.01um 适用范围：属于无损测量，对样品没太大要求 常用测试标准：GB/T 、ISO 、DIN EN ISO 、ASTM B(R2014) ASTM A、JIS H 镀层成分分析和样品表面污点分析 设备名称：电子探针和光电子能谱仪联用分析 测量精度：0.001% 适用范围：金属及其非金属表面涂、镀层的成分分析,表面污点、异物分析 采用精密分析设备电子探针，对各层成分金相分析，取样方式为切面法，对各层金相高倍放大进行点和面的分析，最薄的覆盖层厚度可以到0.1um，优点是其分析精度高，采样直接有代表性。 光电子能谱仪仪和电子探针联合运用，还可以对样品表面的点分析和面分析，对比分析可以知道材料表面污染造成的原因。 SGS提供上述测试标准的检测服务，详情请咨询SGS: 联系人：张先生 电话：++86 138 0604 1987 传真：+86-592 576 5380 E-Mail: 地址：中国·福建省厦门市火炬（翔安）产业园翔虹路31号