异物分析是专门分析产品上的微小嵌入异物或表面污染物、析出物等进行成分分析的技术。例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析,藉此找寻污染源或配方不相容者,是改善产品最常用的分析方法之一。
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英格尔技术异物分析根据异物的实际情况选用合适的分析方法。异物分析主要涉及三个方面,一是异物的有机物结构分析,主要用红外FTIR分析;二是异物或材料表面的元素成分分析,主要用电子探针(EPMA)、扫描电镜能谱仪(SEM-EDX)、多功能光电子能谱仪(XPS)、能量色散型X 射线荧光光谱仪(EDX)等;三是表面观察,主要用光学显微镜(OM)和电子显微镜(比如SEM),为科研及生产中成分鉴定、调整配方、新产品研发、改进生产工艺提供科学依据。
英格尔技术检测领域
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