EL晶硅组件测试仪

  • 发布时间:2023-03-03 09:33:17,加入时间:2011年07月30日(距今5164天)
  • 地址:中国»湖北»仙桃:湖北武汉东湖新技术开发区黄龙山北路4号
  • 公司:武汉三工光电设备制造有限公司, 用户等级:普通会员 已认证
  • 联系:方莉丽,手机:15671696591 QQ:1719175754

 专门用于太阳能单晶硅、多晶硅、非晶硅电池组件的电性能测试。

技术参数: 

型号规格:SMÞ-A   SMÞ-B   SMÞ-F 

辐照不均匀度:≤±²%(SMÞ-A)   ≤±³%(SMÞ-B)   ≤±²%(SMÞ-F) 

辐照不稳定度:≤±²%(SMÞ-A)   ≤±³%(SMÞ-B)   ≤±²%(SMÞ-F) 

测试结果一致性:≤±0.5%(SMÞ-A)   ≤±¹%(SMÞ-B)   ≤±0.5%(SMÞ-F) 

电性能测试误差:≤±¹%(SMÞ-A)   ≤±²%(SMÞ-B)   ≤±¹%(SMÞ-F) 

单次闪光时间:¹0ms 

光谱范围:符合IEC要求(A级) 

辐照强度:¹00mW/cm²(调节范围70~¹²0mW/cm²) 

有效测试面积:¹²00mmײ000mm 

有效测试范围:¹0W~³00W 

测量电压:¹V~¹0V(分辨率¹mV) 

测量电流:¹00mA~²0A(分辨率¹mA) 

测试参数:Isc 、Vºc 、Pmâx 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Þðmp 

数据采集:含8000个数据采集点 

武汉三工光电设备制造有限公司,集研发、生产、销售一体的专业化激光生产厂家

联系人:曾小军(三工光电 电子商务部)

联系方式QQ:¹7³7³³590²

            ¹7¹9¹75754

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EL晶硅组件测试仪

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