C测试仪
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比较器功能/触发输出功能
用BIN的分选接口进行被测物体的测试
记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
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基本参数
测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
- 测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒压模式: 100mV (仅限)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
- 测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量 (除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(除外)
电源 AC V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
