EL缺陷检测设备

  • 发布时间:2022-08-11 09:50:50,加入时间:2011年07月30日(距今5105天)
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SMT-A / SMT-B / SMT-F :太阳能电池组件测试仪 

产品特点: 

该设备专门用于太阳能单晶硅、多晶硅、非晶硅电池组件的电性能测试。 

通过模拟太阳光谱光源,对电池组件的相关电参数进行测量。 

独有的校正装置,输入补偿参数,进行自动/手动温度补偿和光强度补偿,具备非接触式自动测温与温度修正功能。 

基于Windows的操作界面,测试软件人性化设计,记录并显示测试曲线(I-V曲线、P曲线)和测试参数(Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp),测试结果语音提示,序列号自动生成,保存到指定文件夹。 

技术参数: 

型号规格:SMT-A   SMT-B   SMT-F 

辐照不均匀度:≤±2%(SMT-A)   ≤±3%(SMT-B)   ≤±2%(SMT-F) 

辐照不稳定度:≤±2%(SMT-A)   ≤±3%(SMT-B)   ≤±2%(SMT-F) 

测试结果一致性:≤±0.5%(SMT-A)   ≤±1%(SMT-B)   ≤±0.5%(SMT-F) 

电性能测试误差:≤±1%(SMT-A)   ≤±2%(SMT-B)   ≤±1%(SMT-F) 

单次闪光时间:10ms 

光谱范围:符合IEC要求(A级) 

辐照强度:100mW/cm2(调节范围70~120mW/cm2) 

有效测试面积:1200mm×2000mm 

有效测试范围:10W~300W 

测量电压:1V~10V(分辨率1mV) 

测量电流:100mA~20A(分辨率1mA) 

测试参数:Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp 

数据采集:含8000个数据采集点 

应用领域:专门用于太阳能单晶硅、多晶硅、非晶硅电池组件的电性能测试。

EL缺陷检测设备

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