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石英晶振片，膜厚监测传感器

  • 发布时间：2018-08-17 15:23:03,加入时间:2015年12月07日(距今3509天)
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膜厚监测传感器用于用于在镀膜过程中，监控膜层的厚度

频率：6M；切型：AT；振动模式：基频

规格： 产品材料 纯 z 晶棒 

晶片切型 AT 

振荡模式 基频 

晶片外形 平凸片 

晶片直径 13.98±0.03mm 

电极材料 铬/金 

谐振频率 5.980～5.988 MHz@25℃ 

等效电阻 小于15欧姆 

工作温度 +25℃～+75℃ 

储存温度 -20℃～+85℃ 

储存湿度 RH30%～50% 

包装数量 10 片/ 盒 

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