Xstrata920X射线荧光测厚仪

  • 发布时间:2022-11-08 10:12:48,加入时间:2011年10月27日(距今4956天)
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膜厚测量仪又称金属涂镀层厚度测量仪,因响应全球环保工艺准则,故目前市场上最普遍使用

的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。在此技术方面广大业界一致认同牛津仪器膜厚测量仪比

较领先,国产仪器一直在模仿,无法超越。具体介绍为:OXFORD

X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪. X射线荧光镀层测厚仪系列中经济实用又功能齐全的机型 用途:检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费,是生产管控的厉器。

无损膜厚测量仪 测量 端子、连接器、壳子、电子元器件、接插件、通讯电子、PCB LED等

FFC.LED.RJ.SATA.针仔系列、不锈钢带、铜带、铁材、镍带等等各种冲压材料材质高精密汽车/

电脑/电子行业周边部件产品连续电镀。点镀、选镀、浸镀、刷镀、贴镀。
镀金、镍、锡等快速,无损,精准。是保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费,是生产管控的厉

器。


 

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