Uee®960测厚仪可适用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，对涂有漆膜的工件进行真实的厚度精确检测。特别方便和新技术的空气归零，免除了使用试块校测的传统方式！
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Uee960型彩色波形显示测厚仪采用当今世界新的超声技术设计和制作，适用于各种材料的穿越涂层高精测量需求。她是一款功能实用、性能卓越、操作简便、坚固耐用、结果可靠的测厚仪。这款手持式测厚仪可完美的适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶探头完全兼容。
采用国际先进的工控型CPU系统，双CPU协同工作，仪器控制部分与数据处理部分独立工作，系统运行高速可靠，现场性能卓越。各种工件轻松测量，准确度高。
技术参数：
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型号 |
Uee960 |
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探测范围 |
0.75～1000.0MM |
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频带宽度 |
0.5～15.0MHz |
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示值误差 |
工件厚度＜10mm，误差＜0.1mm； 工件厚度＞10MM，误差= ±（0.05+0.5%*H）mm |
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可穿透涂层厚度 |
1MM |
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穿透涂层后可测范围 |
2～150MM |
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声速范围 |
5000～9999m/s |
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探头方式 |
双晶 |
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显示精度 |
0.01mm |
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显示模式 |
数显 |
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测量单位 |
公制（mm）/英制（in） |
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输出端口 |
Mini USB |
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显 示 器 |
2.4"真彩显示320×240 |
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电池工作时间 |
>3小时 |
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工作温度 |
-20℃～50℃ |
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电 源 |
三节AA型碱性干电池 |
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外形尺寸 |
150（长）×75（宽）×32（厚）（mm） |
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整机重量 |
0.275Kg（含电池） |
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标准配置 |
主机，探头，探头线，数据线，软件，耦合剂，电池，说明书等 |
