X射线测厚仪

  • 发布时间:2014-05-19 10:51:26,加入时间:2011年10月27日(距今4956天)
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膜厚为电镀检测基本项目,使用基本工具为萤光膜厚仪(X-RAY)其原理是使用X射线照射镀

层,收集镀层返回的能量光谱,膜厚测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 铬 锌 等贵金属多镀层膜厚

测量,快速 精准 无损,业内广受好评。

无损膜厚测量仪 测量 端子、连接器、壳子、电子元器件、接插件、通讯电子、PCB LED等

FFC.LED.RJ.SATA.针仔系列、不锈钢带、铜带、铁材、镍带等等各种冲压材料材质高精密汽车/

电脑/电子行业周边部件产品连续电镀。
点镀、选镀、浸镀、刷镀、贴镀。
镀金、镍、锡等快速,无损,精准。是保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费,是生产管控的厉

器。

大功率X射线管和高分辨率,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求,帮助企业

降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验

系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检

测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或

形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试

点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大

展身手。

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