德国EPK麦考特G6/F6/Ni50机械涂层测厚仪
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产品名称：涂层测厚仪/镀层测厚仪/漆膜测厚仪/磁性测厚仪
型号：MIKROTEST G6/F6/Ni50
品牌：德国EPK
销售代理：深圳市宇凯科技有限公司
德国EPK麦考特G6/F6/Ni50机械涂层测厚仪产品介绍：
麦考特G6机械式涂层测厚仪可测量钢铁/铸铁基体上所有非磁性涂层镀层厚度（如漆、粉末涂层、塑料、锌、铜、锡及镍）。测量快速、精确、无损，三十多年来MikroTest涂层镀层测厚仪已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明MikroTest 涂层镀层测厚仪在工艺技术及精度方面，具有磁性覆层测厚仪的高水准。
德国EPK麦考特G6/F6/Ni50机械涂层测厚仪产品特性：
1.自动测量不会发生误操作;
2.易于掌握并具有极高精度;
3.不用校准、设定、检测简便;
4.不需要电池或其他电源;
5.自动报出厚度读值;
6.永久磁性测头，一点测定;
7.适于室外频繁操作使用;
8.抗机械冲击、耐酸及溶剂腐蚀;
9.平衡装置消除地心引力影响，可在任意方向和管内准确测量。
德国EPK麦考特G6/F6/Ni50机械涂层测厚仪技术规格：
型号 测量范围 测量精度 小测量区直径mm 小半径mm
凸 凹 基体小
厚度mm 适用范围
MIKROTEST G6 0-100um 1um或5% 20 5 25 0.5 钢、铁上电镀层、漆、搪瓷、塑料、橡胶层
MIKROTEST F6 0-1000um 3um或5% 30 8 25 0.5
MIKROTEST S3 0.2-3mm 5% 30 15 25 1.0
MIKROTEST S5 0.5-5mm 5% 50 15 25 1.0
MIKROTEST S10 2.5-10mm 5% 50 15 25 2.0
MIKROTEST S20 7.5-20mm 5% 100 100 150 7.0
MIKROTEST NiFe50 0-50um 2um+5% 20 20 25 0.5 钢上电镀镍层
MIKROTEST Ni50 0-50um 1um+5% 15 5 25 － 非铁质金属基体上电镀镍层
MIKROTEST Ni100 0-100um 1um+5% 15 5 25 － 非铁质金属基体上电镀镍层
符合标准：
符合DIN、ISO及ASTM标准。MIKROTEST完全自动操作。
标准配件:
Mikrotest测厚仪Ⅲ或Ⅳ型配有手提（和头挂）绳、塑料盒及使用手册.
应用领域:
钢铁上所有非磁性涂层.如:铬,铜,油漆,橡胶等;和非铁磁性基体上的电镀镍.
德国EPK麦考特G6/F6/Ni50机械涂层测厚仪操作方法:
麦考特的工作原理依据的是磁吸引力原理,测量磁钢(3)与磁性基体(钢或镍)间的磁吸力与盘弹簧(6)的弹力平衡.盘状弹簧的旋转弹力的大小与涂层的厚度直接相关.平衡臂(4)保证了各种方位的准确测量(如在垂直面或仰面测量).Mikrotest 6型测厚仪无需电池可直接工作.首先去除被测量物及表面的油和尘土。
使用Mikrotest G、F、Galvanotest型（自动式）
先反时针旋转度盘（图1中6）到底，将麦考特与被测表面平行靠紧。此时读数即为厚度值。在度盘旋转过程中，不要碰按钮终厚度值.
测量方式:
1.平面测量
测量面的位置对于测量结果无影响，注意技术数据表中所列的小测量范围和基体的厚度。
2.弯面测量
在测量柱体或圆形边缘时，利用仪器上的V型部分，将仪器如示意图6放置，测量凹画时与测量平面相同，但要注意小曲率的限制。
3.粗糙表面测量
在粗糙表面测量时，读数将增大（特别是在颗粒尖上）在特别粗糙（如峰值超过50um）的钢基体上，并且涂层厚度超过100um时，实际读数高于涂层真实厚度达20％之多。在这种情况下，平均值的读取至少应测5个以上。
4.检查精确度
标准厚度的测量通常只需偶尔进行或在怀疑读数的正确性时进行。对于这种测量可采用EPK公司的厚度标准件校准，同样还可采用其它方法校对此测量仪：对于型号Mikrotest G、F和Galvanotest可采用一块无涂层的钢（涂层厚度为“0”)如仪器读数为1标准公差，那么整个测量为正确的。切不可使用薄片校对！在那种情况下读数将大大增高;对于S3、S5和S10型号可采用一块用上述的钢块和一片已知厚度的非磁性材料（如塑料）;对于型号Ni50和Nil00可采用一个厚的非磁性材料（如木头）此时测量仪应指示0-1um。
操作中遇到的问题：
由于测厚仪经过校准后，在使用中不能再变动。所以，在实际使用中，可能会出现的一些影响测量精度的因素必须加以考虑，并对测量结果进行必要的修正。以获得更准确的读值
这些因素有：
1.钢铁基体的磁特性及光泽;
2.基体金属厚度：该仪器有一个基体小临界厚度值。型号不同、则这个厚度值不同。请参考技术说明指标。若厚度超过这一小临界厚度值，测量值不受影响。反之，则造成读值偏高。
c.边缘效应:该测量方法对被测体边界、孔眼、空腔等表面形状陡变敏感。因此，在靠近边缘或内转角处进行测量是不可靠的。所以，技术说明指标指出了小测量面积。一定要测量则必须经过校对验证。
d.曲率:被测件的曲率对测量有影响，一般凸面可以造成测值偏大，凹面则偏小。尽管仪器设计对这方面有所补偿。
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