描述
E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设
计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A
使用射频电流电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。本阻抗精度是
+/-0.8％。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1
mHz的分辨率。
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材料评估
E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
E4991A 射频阻抗/材料分析仪
主要特性与技术指标
本精度
本精度 +/-0.8％
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 风格的用户界面
内置 VBA 编程功能
通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）
可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）
温度特性测量（选件 E4991A-007）
描述
E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设
计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A
使用射频电流电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。本阻抗精度是
+/-0.8％。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1
mHz的分辨率。
