蓝牙产品的射频测试，是其进行蓝牙认证流程中，测试环节的重要部分。而射频测试得以正常进行的前提，是客户提供的样品能够成功进行相应的测试模式。这里提到的测试模式是指，由蓝牙技术规范(SIG发布)规定，支持蓝牙的收发测试，能用于配合射频或基带层的测试。即在测试模式下，蓝牙产品能够处于测试标准要求的特定工作状态，如特定的跳频模式、工作信道、调制方式以及数据包类型等参数。所有的蓝牙芯片一定会有测试模式，不同的芯片进入测试模式的方法不同，具体是由不同的芯片厂商决定。
蓝牙样品能否进入测试模式，是对其开展射频测试的前提和关键。依据现行蓝牙技术规范，已定义的蓝牙测试模式如下所示：
Classic Bluetooth(BR/EDR)技术测试模式：Test Mode （信令模式）
Bluetooth Low Energy(BLE)技术测试模式：Direct Test Mode （非信令模式）
通常，在进行Classic Bluetooth射频测试时，被测物在成功进入Test Mode后，蓝牙测试仪(如R&S CBT, Anritsu MT8852B等)通过射频线路，与被测物进行信令连接模式，与从而控制其工作状态，完成各测试项目。除进入Test Mode时可能需要要额外的控制接口或控制线外，测试过程中是不需要外部干预对DUT进行设置。
然而，不同于Classic Bluetooth射频Test Mode，Bluetooth Low Energy是没有信令模式的，它的Direct Test Mode测试模式不能与蓝牙测试仪建立双向链路，即被测物的工作状态不能通过蓝牙测试仪来控制，须通过以下两种连接方式之一，来进入Direct Test Mode，通过特定指令来实现
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