半导体平整度测量Core9037a共面性和翘曲测定

  • 发布时间:2018-08-28 09:50:33,加入时间:2012年07月18日(距今4672天)
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Cores半导体平整度测量/共面性翘曲测定仪Core9037a特点:

· 利用本装置可以在加热状态下进行“表面贴装元器件的共面性和翘曲测定”及“印刷电路板形状测定”

· 通过将温度曲线设定为“制造回流曲线”,可以从部件和电路板两方面探寻制造过程中产生不良的原因

· 并且,通过设定“解析温度曲线”,可以在对部件和电路板进行设计开发时,对温度形状特性进行解析和验证

· 装置中配备有2个传感器,能够利用适于测定对象的传感器进行准确而高速的测定,同时,其测定对象也可涵盖从电子元器件至A4尺寸电路板的广泛范围

Core9037a共面性/翘曲测定仪Cores半导体平整度测量规格参数:

电源                            AC 200V±Hz 单相

消耗电力                约8000VA

驱动轮                        2轴(x-y5相步进马达

变位传感器1  1 光源、波长 半导体激光 红色,670mm

              分辨率        0.3μm

              点径        7μm

变位传感器2  2 光源、波长 半导体激光 红色,650mm

              分辨率        0.8μm

              点径        50μm

供给气体压力                0.6Mpa~0.9Mpa

气体消耗量                400L/min

重置                        主机单元:约200kg

                              监视器单元:约60kg   

外形尺寸                主机单元:W110xD800xH1360 (mm)不含突起部分

                              控制单元监视器单元:W480xD640xH1280 (mm)不含突起部分

使用周围温度                25℃±3℃ 

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