X-Strata920镀层膜厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
膜厚仪 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
一、镀层膜厚仪X-Strata系列提供了：
1、无损分析：无需样品制备；
2、经行业认证的技术和可靠性，确保每年带来收益；
3、操作简单，只需要简单的培训；
4、分析只需要三步骤；
5、杰出的分析准确性和精确性；
6、在镀层测后领域拥有超过20年的丰富经验。
二、膜厚仪的优势
高性能、高精度、长期稳定
1、快速精确的分析带来生产成本的高优化；
2、精确测定元素厚度；
3、优化的性能可满足广泛的元素测量。
三、膜厚仪坚固耐用的设计
1、可靠近生产线或在实验室操作；
2、生产人员易于使用；
3、简单的校准调试；
A、在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果；
B、方法建立只需几分钟；
C、我们提供认证标准片以确保精确度（A2LA和ISO/IEC17025）
D、预置了多种校准参数。
4、可分析多种样品形状和尺寸：
A、可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件；
B、提供多种硬件供选配，满足各种需要。
