日立分析仪器XRF镀层膜厚仪系在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费降至最少。随着X-Strata功能的扩展，用户可通过该仪器进行更多的工作。XStrata920以及日立仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来前景、可靠性和易用性而闻名。SDD的加入以及多种配置选择能提高我们客户的分析能力和灵活性，以测量大量零件的的复杂镀层。我们保留了高度直观的SmartLink软件，因此任何操作员（无论经验水平如何）都能够快速学会使用仪器并获得准确可靠的结果。我们的镀层产品爆款FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式分析的CMI系列，40年来在镀层测量领域一直深受信赖，我们很高兴引进这项仪器。
