一、FT150膜厚仪概述：
膜厚仪是新型开发的X射线荧光镀层测厚仪，这款膜厚仪与以往的镀层厚度测量仪相同，适用于各种应用程序，同时通过增加新功能以提高可操作性和测量性能，从而大幅度缩短从准备样品到完成所有处理的时间。
二、FT150膜厚仪特点：
1、显微领域的高精度检测
通过采用新开发的多毛细血管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30um的基础上，进一步将处理能力提升到2倍以上。
2、膜厚仪性能设计适合各类检测样本
针对检测样本的不同种类，可在下列三红型号中选择。
测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号；
能够处理尺寸600*600mm的大型印刷电路板用型号；
适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号。
3、充分备有操作性与安全性
FT150膜厚仪放大了开口，同时样品室的门可单手轻松开闭。从而提高了取出放入检测样品的操作渐简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用。
4、样品测试部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样品室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
5、清晰的样品图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清楚的观察数十um的微小样品。
这个型号的膜厚仪分为三款分别为：FT150（标准型）FT150h（高能量型）FT150L（大型线路板对应）。这款三款膜厚仪分别对应不同行业，所以此款产品多样化的设计也是对业界各位生产提供了好的选择。
