阻抗测量和耗散
QCM-I石英晶体微天平是一种高灵敏度质量传感器，可测量石英晶体谐振器和任何吸附膜的频率和耗散变化。 QCM可应用于很多方面—生物传感器，化学传感器，腐蚀，聚合物薄膜，纳米颗粒薄膜等。频率和耗散的变化提供了与薄膜质量或弹性变化有关的信息。
QCM-I由匈牙利布达佩斯的MicroVacuum Ltd.制造。 MicroVacuum将基于USB的恒电位仪的控制集成到他们的BioSense软件（V3或更高版本）中。
测量原理是基于石英晶体的阻抗分析。 确定谐振频率和谐振电导曲线的带宽。 半带宽或全宽，半带宽（FWHM）与质量因子（Q）直接相关，质量因子（Q）定义为耗散的倒数（D）。
