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美国吉时利KEITHLEY6514 吉时利6514 静电计 的电流灵敏度以及低压负荷能力，使其非常适于：
光电二极管暗电流测量
进入影印机碳粉内的电荷测量
放射剂量测量
高阻低电流测量
体电阻率和表面电阻率
惰性气体或高度真空中的小晶体进行高电阻测量
用6线电阻测量技术获得更准确的电阻测量
碳纳米管
半导体纳米线
碳纳米管 FET
纳米传感器和阵列
单电子晶体管
分子电子
有机电子
基本运放电路
二极管和电路
晶体管电路
双极结型晶体管设计
结型场效应晶体管设计
金属氧化物半导体场效应晶体管设计
太阳能电池和 LED 设计
高电子迁移率晶体管设计
复合半导体器件设计
分析纳米材料和实验器件
碳纳米管的电测量标准
测量碳纳米管电气特性
提高纳米电子和分子电子器件的低电流测量
在低功率和低压应用中实现准确、可靠的电阻测量
纳米级器件和材料的电气测量
提高超高电阻和电阻率测量的可重复性
美国吉时利KEITHLEY 6514静电计具有灵活的接口性能，其电流灵敏度、电荷测量能力、分辨率和速度都优于我们之前的静电计。6514内置式IEEE-488、RS-232与数字式I/O接口使它可以很容易地配置为全自动、高速系统，用于低电平测试。
<1fA 噪声
电压测量时，输入阻抗>200TΩ
电荷测量范围 10fC-20μC
速度可达1200个读数/秒
简易的用户界面提供开关，计算机以及元件处理器
主动消除电压与电流的偏移
系统特点
电阻测量可达10的16次方Ω
电流测量范围1fA-20mA
zui小电流量程输入压降<20μV
200TΩ输入阻抗
<3fA偏置电流
高达425rdgs/s
噪声0.75fA p-p
内置±1kV电源
独特的高电阻测量电压反接方法
可选的插件式扫描卡
高阻表主要技术指标
主要技术指标
型号
KEITHLEY6514
KEITHLEY6517B
电流测量
<1fA（包含噪声）～20mA
电压测量
10μV（数字分辨率极限，可能含有噪声）～200V
电阻测量
10Ω～200GΩ
100Ω～10PΩ
zui低电阻精度优于1%，zui高电阻精度优于10%
（使用测量，通过加电压测电流或加电流测电压实现，不直接显示阻值）
电荷测量
10fC（数字分辨率极限，可能含有噪声）～20μC
10fC（数字分辨率极限，可能含有噪声）～2μC
特性插头
3 Slot Triax
3 Slot Triax
IEEE-488
