半导体模块全参数测试设备

  • 发布时间:2022-09-22 11:00:43,加入时间:2018年07月16日(距今2534天)
  • 地址:中国»陕西»西安:陕西省西安市雁塔区太白南路191号
  • 公司:西安谊邦电子科技有限公司, 用户等级:普通会员 已认证
  • 联系:李想,手机:15249202572 微信:xiangzi1995 电话:029-86095858 QQ:1633716937

EN-3020C系统是专为测试IGBT而设计。能够真实准确测试出IGBT与二极管的静态参数:其测试范围如下:

l 栅极-发射极漏电流测试单元              VGES、IGES

l 栅极-发射极阈值电压测试单元            Vge(th)

l 门极-发射极间电压测试单元              VCES、ICES

l 集电极-发射极饱和电压测试单元          Vge(sat)、IC

l 二极管压降测试单元                    VF、IF

l 二极管反向击穿电压测试单元            VR、IR

l 结电容测试单元                        Cies, Coes, Cres

计算机控制系统

此设备的控制系统主要由计算机控制,计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元,设备的工作程序、工作时序、开关的动作状态,数据采集等均由计算机完成。

计算机采用联想一体机,具有速度快、内存大、方便携带等特点。

NI USB-6009是一块多功能的数据采集卡,具有三组数据端口,8/4个模拟量输入端口,两个模拟量输出口、13个数字输出口。

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