瑞凯老化箱厂家-测试Pcb电路板速老化寿命试验
为确保PCB电路板长时间使用的质量与可靠度,很多PCB电路板制造厂家都进行SIR (Surface Insulation Resistance)表面绝缘电阻的试验，透过其试验方式找出PCB是否会发生MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象，离子迁移与是在加湿状态下(如: 85"C/85%R.H), 施加恒定偏压(如: 50V), 离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生并析出树枝状金属的现象，常造成短路，离子迁移非常脆弱，在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失。
试验设备：
HAST高压加速寿命试验机、PCT高压加速寿命试验机
设备特点;
1、低噪音设计，噪音值都控制在65dB以下;
2、曲线和数据保存，所有的试验数据和曲线可通过USB按日期选择拷贝保存，可记录保存120天数据及曲线;
3、缓降压处理，可选排气排水模式，防止试验结束后样件受到急剧压力、温度或水分蒸发的环境影响。
MIG与CAF常用的规范:
IPC-TMIPC-SF-G18. IPC-9691A、IPCMIL-F-14256D、 ISJIS Z 3284. JIS Z3197等。
试验时间通常一次就是1000h、2000h, 对于产品的周期性来说缓不应急，而HAST是一 种试验手法也是设备名称， HAST高压加速寿命试验机是提高环境应力(温度&湿度&压力)，在不饱和湿度环境下(湿度: 85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间，用来评定PCB压合&绝缘电阻， 与相关材料的吸湿效果状况，缩短高温高湿的试验时间(85*C/85%R.H./1000h110*C/85%R.H./264h),
PCB的HAST试验主要参考规范为:
JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、 JPCA-ET-08。
HAST加速寿命模式:
提高温度(110°C、120°C、 130°C);
维持高湿(85%R.H.);
施加压力(110*CMPa、120*CMPa、130*CMPa);
外加偏压(DC直流电);
PCB的HAST测试条件:
1、JPCA-ET、 130“C/85%R.H. /5~ 100V
2、高TG环氧多层板: 120*C/85%R.H./100V, 800小时
3、低诱电率多层板: 110*C/85% R.H./50V/300h
4、多层PCB配线材料: 120°C/85% R.H/100V/800 h
5、低膨胀系数&低表面粗糙度无卤素绝缘材料: 130°C/ 85 % R.H/12V/240h
6、感旋光性覆盖膜: 130°C/ 85 % R.H/6V/100h
7、COF膜用热硬化型板C/ 85 % R.H/100V/1
