手机硬件可靠性测试设备,高低温冲击试验条件

  • 发布时间:2019-08-30 09:47:55,加入时间:2013年05月20日(距今4021天)
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目的: 验证产品在高低温冲击后,没有零器部件损坏和功能异常形象,暴露产品的不良缺陷。 测试设备: 高低温冲击试验箱 测试条件和方法: 1) 检查试验箱外观 结构功能都正常,不得有不良品。 2) 低温箱调至 (-25+3)℃。 3) 高温箱调至(30±3) ℃。 4) 样机带电池、不开机,放入试验箱内。 5) 样机在低 (或高)温环境下放置30min。 6) 在3min内将样品暴露在高(或低)温环境下放置30min。 7) 在3min内将样品暴露在低 (或高)温环境下放置30min。 8) 重复做第5步至第6步,共5个循环。, 9) 温度恢复常温以后检查外观结构,开机进行全功能检查。 评估标准: a)能正常开机和关机 b)所有功能都正常 c)LCD显示正常,无花色或变色现象 d)外观无变形裂纹 e)结构无开裂或破损 f)按键弹性敏捷度正常 g)金属部件无生锈现象 h)表面喷漆无脱落

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