手机硬件可靠性测试设备,高低温冲击试验条件
目的:
验证产品在高低温冲击后,没有零器部件损坏和功能异常形象,暴露产品的不良缺陷。
测试设备:
高低温冲击试验箱
测试条件和方法:
1) 检查试验箱外观 结构功能都正常,不得有不良品。
2) 低温箱调至 (-25+3)℃。
3) 高温箱调至(30±3) ℃。
4) 样机带电池、不开机,放入试验箱内。
5) 样机在低 (或高)温环境下放置30min。
6) 在3min内将样品暴露在高(或低)温环境下放置30min。
7) 在3min内将样品暴露在低 (或高)温环境下放置30min。
8) 重复做第5步至第6步,共5个循环。,
9) 温度恢复常温以后检查外观结构,开机进行全功能检查。
评估标准:
a)能正常开机和关机
b)所有功能都正常
c)LCD显示正常,无花色或变色现象
d)外观无变形裂纹
e)结构无开裂或破损
f)按键弹性敏捷度正常
g)金属部件无生锈现象
h)表面喷漆无脱落
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