一、简单介绍
目前IC使用率增长随之不佳率及反修率也越来越高，PTI818 可以测试IC各脚之间开短路，对GND和VCC的clamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容，对IC上电，量测关键点的电压等手段检测出不佳IC，并能对不佳情况进行统计，以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革
二、产品特点
§ 模块化设计，为扩展多种功能提供了测试平台。
§ 丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的保证了稳定性和测试覆盖率。
§ 测试程序全部自动生成并ATPD（Auto Test Program Debug）。
§ Board View功能可即时显示不佳脚位，针点位置，方便检修。
§ 完整丰富的测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据。
§ PTI818 系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。
§ 支持GPIB外围设备扩展功能。
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