产品简单介绍:
1.即放即测。
2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量。
3.可无标样测量。
4.通过样品整体图像更方便选择测量位置。
FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪 特长：
1.通过自动定位功能提高操作性
测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
2.微区膜厚测量精度提高（选配）
通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3.多达5层的多镀层测量
使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4.广域观察系统（选配）
可从250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
5.对应大型印刷线路板（选配）
可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6.性价比高
与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。
FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪 规格：
型号：FT110A
测量元素：原子序号Ti（22）～Bi（83）
X射线源：空冷式小型X射线管
管电压：50（可变更）kV
管电流：10～1000μA
检测器：比例计数管
准直器：○型： 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ2種
样品观察：CCD摄像头
对焦：激光对焦（自动）
滤波器：一次滤波器（自动切换）
样品区域：
固定台面535×530 mm
移动量：X:250 mm, Y:200 mm
测量软件:薄膜FP法、检量线法
安全功能:样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能
