HIOKI日置IM3523 LCR测试仪按键故障维
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LCR测试仪 IM3523
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
内置比较器和BIN功能
2ms的快速测试时间
连续测量不同条件：在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。
顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能：为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。IM3523的面板保存功能更，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
接触检查功能：检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOTLCUR间和HPOTHCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
精度计算软件：仅需输入数值即可轻松计算精度。
基本参数：
测量模式 LCR,连续测试
测量参数 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
±单位]* ～9.99999G [单位])(*为zui高分辩率时的显示位数）
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ±deg;～deg;), D: ±～
Q: ± (0.00～Delta;%: ±～
基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平 正常模式
V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗 正常模式：100Ω
显示 单色LCD
测量时间 2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能 比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能
接口 EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)
选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源 100～240V AC，50/60Hz，zui大50VA
尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
