相位分析仪 HP4194A LCR测试仪 网络分析

  • 发布时间:2021-03-03 08:07:39,加入时间:2011年05月14日(距今4775天)
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HP 4194A阻抗/增益—相位分析仪是对元件和电路进行有效的测量、分析或合格/不合格测试的综合性解决方案。它可又快又方便地评估和测试各种阻抗特性和传输特性,包括二次参数的导出。HP 4194A可提高工作效率并节省测试费用,分析仪无论在阻抗还是传输的测量上均很灵活且有广泛的测量功能。它还用自动顺序编程(ASP)来现实完全可程控。通过存入面板上的键入操作,就能对所希望的测量和计算(包括图形分析)进行简单编程,从而使你能自定义测量、计算和分析功能。HP 4194A还具备高精度和误差消除功能,以保证可靠的测量。
特点:
· 宽的阻抗测量范围:100Hz~40MHz,10mΩ~100mΩ,用HP 4194A/B 时为
10kHz~100MHz,0.1Ω~1MΩ
· 增益—位测量
· 10Hz~100MHz,-107dBm~+15dBm,0.1dB分辨率
· 灵活的测量,计算和分析功能,彩色图形显示
· 完全可程控
· 宽范围的精确测量
· 快速分析
· 等效电路分析功能
· 自动顺序编程(ASP)
· 用HP 4194A/B阻抗探头配件增加功能
技术指标
阻抗测量
· 测量参数:|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q可提供12种参数组合
· 测试频率:100Hz~40MHz(电缆长度:0m)
· 振汇器电平:10mV~1Vrms(≤10MHz),10mV~0.5Vrms(>10MHz);(UNKNOWN端开路),3位分辨率
· 直流偏置:0~±40V,10mV分辨率
· 测量终端:4端对配置
· 测量范围和高分辨率

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