供应量 DSA8300 数字采样示波器

回收工厂或个人、库存闲置、二手仪器及附件。

长期专业销售、维修、回收高频二手仪器。

温馨提示：如果您找不到联系方式，请在浏览器上搜索一下，旺贸通仪器

泰克数字分析仪采样示波器DSA8300

Tektronix泰克DSA8300数字采样示波器

DSA8300 是一款先进的等效时间采样示波器，为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析应用提供zui高的保真测量和分析功能。

泰克数字分析仪采样示波器DSA8300关键性能指标

超低时基抖动：

在同时采集的zui多 8 条通道上，典型值为 425 fs

使用 82A04B 相位参考模块时，在zui多 6 条通道上 <100 fs

zui佳的垂直分辨率 – 16 位模数转换器

电接口分辨率： <20 μV LSB（适用于 1 V 全量程）

光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW

>80 GHz 的光接口带宽

电接口带宽 >70 GHz

为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能

80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

主要功能

通过当前采样模块系列，DSA8300 支持同时采集zui多 8 个信号

多种光接口、电接口和附件模块，满足您的特定测试要求

光接口模块

全面集成光接口模块，支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有标准光接口数据速率

经过认证的光接口参考接收机，支持标准规定必须进行的*性测试指定的要求

>80 GHz 的光接口带宽

光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准

经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗

经过校准的消光比测量，在采用这一出厂校准选项模块时，系统间消光比测量可靠性 <0.5 dB

电接口模块

超低噪声电接口采样器（20 Ghz 时为 280 μV，60 Ghz 时为 450 μV，典型值）

可以选择带宽1允许用户用采样器带宽和噪声换取zui优的数据采集性能

远程采样器2或紧凑的采样扩展模块电缆，采样器可以放在被测器件附近，使信号劣化达到zui小

世界上性能zui高的集成 TDR（10 ps 典型阶跃上升时间），高效检定阻抗不连续点，高动态范围，执行高达 50 Ghz 的 S 参数测量

分析

为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了一套完整的超过 120 种自动测量功能

80 多种行业标准模板，自动进行模板测试。新模板可以导入到 DSA8300 中，支持新出现的标准。此外，用户可以为自动模板测试定义自己的模板

垂直直方图和水平直方图，对波形进行统计分析

垂直光标、水平光标和波形光标(带测量数据)

通过 80SJNB 基本和高级应用软件选项提供抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析

通过 IConnect® 应用软件选项提供高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能

高测试吞吐量

每条通道高达 300 kS/s 的采样采集速率

高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模块。

2 仅适用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

应用

设计/检验电信和数据通信器件和系统

ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/*性测试

高性能真正差分 TDR 测量

串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括 S 参数

高级抖动、噪声和 BER 分析

通道和眼图仿真及基于测量的 SPICE 模型

杰出的性能，优异的通用性

DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途zui广泛的工具。它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和电接口发射机进行检定及*性测试检验。

此外，DSA8300 特别适合电接口信号路径检定，包括封装、PCB 或电缆。由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性zui强的模块化模块，DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了zui高性能的 TDR 和互连分析能力、zui准确的信号损伤分析能力以及 BER 计算功能。

TDR 模块 S 参数测量带宽性能

80E10B 50 GHz

80E08B 30 GHz

80E04 20 GHz