广电计量可以做AEC-Q-100认证报告,AEC-Q-101认证报告,AEC-Q-102认证报告, AEC-Q-104认证报告，AEC-Q-200认证报告，元器件筛选，破坏性物理分析，NVH测试，AQG324认证，LV324认证
随着新能源汽车半导体功率电子国产化的发展，广电计量引进国际先进的测试技术，基于LV/AQG324认证标准，为功率半导体产业上下游企业提供功率模块电学性能检测，材料、器件与系统的可靠性测试以及失效分析。技术革新带来了验证技术新的挑战，广电计量以LV/AQG324认证试验为基础，积极布局第三代半导体功率模块的可靠性业务领域，助力器件国产化、高新化发展。
车灯是整车的重要组件，围绕车灯及其附件的可靠性试验标准纷繁复杂，各主机厂的试验标准均有不同描述，通用性较差。由福特、克莱斯勒、通用组成的汽车电子委员会（AEC）颁布了光电器件的可靠性标准AEC-Q102，覆盖了LED、激光组件、光电二极管、光电晶体管等分立器件，共分28个大项，对光电器件的可靠性展开了严格的测试要求，为主机厂提供了可靠性高、使用寿命长的光电器件。
随着技术的进步，以SiC半导体材料的功率器件开始由实验室阶段走向商业应用，其可靠性也越来越受关注。AEC-Q101对这些器件给予了很好的定义，对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了梳理。以IGBT、MOS等功率器件模块为例，额外增加了Unclamped inductive switching、Dielectric integrity、Short circuit reliability characterization等测试。技术的革新带来了可靠性的新验证，广电计量以AEC-Q101认证试验为基础，布局第三代半导体器件的可靠性业务领域，助力器件国产化、高新化发展。
服务内容：
广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
广电计量失效分析实验室功率器件技术团队，拥有丰富的功率半导体器件检测，器件可靠性测试，以及可靠性测试设备设计制造的经验，可为您提供电学参数检测，可靠性测试，失效分析及定制化服务。
产品范围：
二、三极管、晶体管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、闸流管等半导体分立器件
适用于MOSFET，Diode，IGBT，第三代半导体器件等元件构成的功率模块。
静态参数
动态参数
其他参数
