集成电路IC的加速寿命模拟可靠性-AECQ100

  • 发布时间:2020-05-05 20:33:18,加入时间:2020年03月29日(距今1977天)
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AEC 是"Automotive Electronics Council:汽车电子协会"的简称.

克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC),是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体,AEC建立了质量控制的标准.[AEC-Q100]是针对于集成电路应力测试认证的失效机理

IC作为重要的车载元器件部件,是AEC委员会持续关注的重点领域。AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q100的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。

测试标准:

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

EIA -469 破坏性的物理分析

MIL-STD-202 电子和电气元器件测试方法

J-STD-002 可焊性规格

MIL-PRF-27 电感/变压器测试方法

JESD22-A121 测量锡及锡合金表面涂层的锡须生长的测试方法

认证测试方法主要如下:

加速环境应力测试

偏高湿度、温度循环、功率温度循环、高温储存、盐雾测试、湿度抵抗、机械冲击、变频振动、恒加速应力、盖板扭力测试、芯片切断、跌落测试

加速寿命模拟测试

高温工作寿命、早期失效率、热冲击、旋转寿命、寿命终止模拟验证

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