鼠标键盘按键寿命测试

  • 发布时间:2021-10-26 17:54:28,加入时间:2019年07月18日(距今2127天)
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按键寿命试验

  详细介绍:

  1.目的:

  制定规范的操作指引,提供试验人员进行按鍵寿命试验;

  模拟用户日常使用电话的情形,试验在不同部位的按鍵寿命情況。

  2.范围:

  适用于所有电话机成品(除客户特殊要求外)以及物料。

  3.参考文件:

  WQA9151-- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.

  WQA9152-- Reliability Test Items for Vtech Europe Products.

  4.定义:

  无。

  5.责任:

  试验申请者提供试验功能正常的样品,并填写试验申请单;

  实验室负责人负责完成所有的可靠性测试,并以E-Mail形式将试验结果通知Project Leader和申请者,试验完毕后发出的正式的报告,并将样品退还申请人;

  对于Failure的项目,实验室负责人要在當天内通知相关负责人员,并协助分析Fail的原因;

  相关部门在必要时提供改善行动,并且送改善后的Sample到实验室,重做测试,以确认改善行动是否有效。

  6.程序

  冲头的调校及安装(按鍵寿命测试);

  逐一调校冲头上的弹簧行程,用弹力计测量,使之符合按压距离 3.0±0.2mm时压力为450~600g;

  将调校好的冲头正确地安装在冲压机上;

  做按鍵寿命试验,VTECH标准要求如下:

  机械寿命次数

  试验过程中需每一万次停下来检查一次,如有问题需详细记录。

  7.试验要求

  试验中和试验后按鍵功能正常;

  试验中和试验后按鍵有任何的机械损坏都是不可以接受的。

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