回收Agilent4155B安捷伦半导体参数分析仪

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Agilent4155B安捷伦半导体参数分析仪

Agilent4155B安捷伦半导体参数分析仪

附加功能:

高分辨率/准确度和宽范围。I:1 fA 至 1 A(20 fA 偏移精度),V:1μV 至 200 VF

采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量,可扩展至 6 个 SMUsSS

同步应力/测量功能,两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量:60μs – 可变间隔,最多 10,001 个点E

易于使用:类似于曲线跟踪器的旋钮扫描,自动分析功能

自动化:内置 HP Instrument BASIC,触发 I/O 功能

Agilent 4155B 半导体参数分析仪是一种独立仪器,能够对半导体器件和材料进行完整的直流表征。它刺激电压和电流敏感设备,测量产生的电流和电压响应,并在内置 CRT 显示器上以用户可选择的格式(图形、列表、矩阵或 schmoo)显示结果。 

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