SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪为业内公认旗舰系列，具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。
测量参数
· 量子效率
· 亮度
· 量子效率随电流密度的曲线
· 色坐标
· 辐射通量，光通量
· 峰值波长
应用领域
· 无机电致发光
· 有机电致发光
· 分子薄膜EL器件
产品优势
· 体积小巧：便于灵活使用及运输。
· 原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量
· 流程化操作：设备无需频繁校准。
产品参数
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系统配置 |
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配置方案 |
方案1 |
方案2 |
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光谱仪 |
型号 |
QEPro / QE65Pro（可选） |
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光谱范围(nm) |
350-1100 |
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信噪比 |
1000:01:00 |
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分辨率 |
2.5 nm (FWHM) |
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动态范围 |
85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集） |
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AD位数 |
18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro） |
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积分球 |
尺寸 |
3.3” |
1.5” |
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材质 |
Spectralon |
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源表 |
Keithley2400 |
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光纤 |
芯径 |
1000um（可更换其他芯径） |
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校准灯 |
角度 |
2 Pi |
型号 |
HL-3-INT-CAL |
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亮度 |
50 流明 |
功率 |
5W（电功率） |
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无线遥控 |
通道数 |
4 |
无遥控 |
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软件 |
SpectrumTEQ-EL专用软件 |
