1.耐压实验，包括额定工作电压24小时工作测试；也包击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。
2.串联电阻测试，绝缘电阻测试；
3.拉力测试，即引线与芯片焊接的牢固度；
4.正负温度变化率测试，即-40度到+60度状况下，电容的变化率；
5.老化测试，电容在模拟工作环境状态下运作30~60天，测试其衰减其各项参数的变化；
6.寿命测试，即在老化测试的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，注意，这个寿命的得出事在长时间的老化之后得出的。
7.局放测试，即局部放电测试；
当然，在这些测试过程中，我们可以得出各种参数，如额定电压，穿击电压，过电流，工作频率，绝缘电阻等。每一种电容在研发与生产配料再次生产时，都要重新进行测试，才能准确半段产品是否合格
