高加速寿命试验

 高加速寿命筛选试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为世界范围内电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT / HASS的试验方式已成为很多新电子产品上市前所必需通过的验证。一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。试验的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。