CST-50M冲击试样缺口投影仪(美标)

  • 发布时间:2023-03-24 09:19:33,加入时间:2012年01月10日(距今4963天)
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夏比冲击试验对于冲击试样缺口要求严格,缺口的微小变化,都会引起试验结果出现误差,为保证加工出的冲击试样缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段。目前用光学投影放大检查是唯一切实可行,并能保证冲击试样缺口质量的方法。CST-50M型夏比投影仪是我公司根据ASTM E23-18《金属材料缺口试样标准冲击试验方法》8.2.2和GB/T229-2020对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,具有自主知识产权,是广大冶金、锅炉压力容器、车船和工程机械制造及科研等部门理化实验室的必备专用设备。
本设备是利用光学投影方法,将冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V型或U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。本设备仅需电源,操作简便,检查对比直观,效率高,体积小,便于移动,易维护。


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