博曼BOWMAN毛细管M系列15UM极小光斑膜厚仪

高端博曼BOWMAN毛细管机型膜厚仪，也叫镀层测厚仪，目前极小光斑7.5UM，15UM，80UM产品，精度在1%，测量时间1秒，可轻松测量，减少了大量的工作时间和促进了工作效率，解决了业内无法达到的精度。它搭载高端SDD探测器，可实现极小的测量斑点，尤其适合ENIG，ENEPIG以及化学镍的%P含量的分析。主要应用在线路板小部位的镀层，半导体，晶圆，引线框架等高精密产品的镀层厚度，还有汽车行业纳米层。