中图仪器大量程粗糙度轮廓测量仪广泛应用于精密机械五金加工、汽车零部件、轴承、机床零部件、模具、光学零部件加工等行业。为全自动测量设备，操作者只需装好被测工件，在检定软件上设定扫描的开始、结束位置，点击开始按钮，测针会自动接触工件表面，并按设定的位置扫描；可高精度地测量精密加工零部件的粗糙度和轮廓形状，再选择所需评价参数即可进行评价。系统软件为简体中文操作系统，操作方便。
技术参数
型号 SJ5760-PR
轮廓参数 测量范围 X轴 0~200mm
Z轴 0~450mm
Z1轴 ±25mm
分辨率 X轴/Z1轴 0.01μm（0.1μm、1μm可选）
测量精度
X轴 ±(0.6+0.015L)μm，（L，mm）
Z1线性精度 ±(0.6+0.05H)μm，（L，mm）
曲率误差（直径） ≤±（1+R/15）μm
角度误差 ≤±1′
爬坡能力 上坡77º，下坡88º
测力 10-150mN可调
粗糙度参数
直线度（X扫描轴）
≤0.4μm/100mm，≤0.8μm/200mm
测量范围
Z0轴 ±20µm;±100µm;±400µm(可选±1000µm特殊量程)
传感器类型 无轨式
适用测量范围 Ra0.1μm~Ra64μm
分辨率 Z0轴 0.001μm（0.01μm可选）
测量精度 示值误差 ≤±（5nm+2.5%A）μm
重复性
≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块)
≤1%（≥0.4μm方波粗糙度样块、标准台阶块)
测量参数
R粗糙度：
Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr等
核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo等
P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, 等
W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr等
Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL等
仪器尺寸 800×450×1000（mm）
仪器重量 约115Kg
性能特点
1、中图仪器大量程粗糙度轮廓测量仪同时能测量表面粗糙度和轮廓形状
共用主体，只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。
2、可进行多参数评定
粗糙度可依据不同标准进行自动评价，包含Ra,Rp,Rv,Rz,Rt,Rmax,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc, Rmr及P参数、W参数、Motif参数、Rcore核心参数等多参数评定。
3、厚度参数测量
粗糙度参数测量的同时可同时测量60微米以内的一些薄膜台阶高度、厚度尺寸，测量方便，精度控制在2%H（H，测量总高度）以内，特别适合高精度且不能有刮伤的测量场合。
4、测量力系统：
采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN连续可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。
5、智能保护系统：
仪器在各个方向都有进行硬件及软件保护，能有效的保护仪器主机及测针，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。
6、灵活手动控制：
仪器配置了特殊分离式操作杆，操作杆在仪器操作移动时，可放置在任何位置控制操作，在测量工件前对测针进行初步定位；在脱离电脑的情况下，操作杆具备左右/上下移动测针、仪器急停、测杆上下摆及移动速度多级调节功能。
环境条件
温度：20±5℃
相对湿度：10%~80%
电源/功率：220V，50Hz，≤350W；
校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场
