东莞REAL Z5000 3D锡膏厚度测试仪

  • 发布时间:2022-01-14 10:41:42,加入时间:2012年10月21日(距今4669天)
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REAL Z5000 3D锡膏厚度测试仪
 自动识别目标选框和参照选框内激光。  测量自动适应基板颜色和反光度,自动修正基板倾斜高 精 度  分辨率提高到纳米级,有效分辨率56nm(0.056um)  高重复精度(0.9um),人为误差减少  数字影像传输:抗干扰,自动纠错,准确度高  高分辨率图像采集:有效像素高达彩色130万像素 高取样密度:测量时每截面超过一千个取样点,   每毫米400点,平均每颗锡球达8~18取样点  颜色无关和亮度无关的测量算法,抗干扰能力强,环境光影响降低  两点基板倾斜修正功能  参照补偿功能:消除阻焊层、铜箔厚度造成的差异  高刚性石质底座平台,Z轴滚柱导轨  放大倍率高,甚至可测到锡膏颗粒直径

产品介绍

基本功能

测量原理

锡膏厚度测量:平均值、点、面积、体积、截面积、XY长宽测量,自动激光识别获取目标截面轮廓
2D测量:距离、矩形、圆、椭圆、长宽、面积等测量。统计分析报表自动生成

将被测物放置在视野,激光非接触照射目标取样获取物体表面形状和截面高度,然后计算选择区域高度、面积和体积

产 品 特 色

自 动 识 别 激 光

自动识别目标选框和参照选框内激光。
 测量自动适应基板颜色和反光度,自动修正基板倾斜

高 精 度

分辨率提高到纳米级,有效分辨率56nm(0.056um)
 高重复精度(0.9um),人为误差减少
 数字影像传输:抗干扰,自动纠错,准确度高
 高分辨率图像采集:有效像素高达彩色130万像素
 高取样密度:测量时每截面超过一千个取样点,
  每毫米400点,平均每颗锡球达8~18取样点
 颜色无关和亮度无关的测量算法,抗干扰能力强,环境光影响降低
两点基板倾斜修正功能
 参照补偿功能:消除阻焊层、铜箔厚度造成的差异
 高刚性石质底座平台,Z轴滚柱导轨
 放大倍率高,甚至可测到锡膏颗粒直径

 

高灵活性和适应性

大板测量:可装夹PCB尺寸达470x670mm,更大可定制
 厚板测量:高达50mm,装夹上面20mm,装夹下面30mm
 小焊盘测量:最小可测量0.1mm的焊盘
LED照明:寿命长
 快速调整装夹:轨道宽度快速调整
 快速转换程序:自动记录最近程序,一键切换适合多生产线共享
 快速更换基板:直接装夹基板速度快

3D效果真实

实时自动由截面生成3D模拟图
 彩色梯度高度标示,高度比可调
3D图全方位旋转、平移、缩放
 3D显示区域平移和缩放
 3D刻度和网格、等高线多种样式

易编程、易使用、易维护

几乎无需编程,仅需设置几个选项
 任意位置图像显示时即可立即设置测量
 没有复杂的运动系统,模组化设计,测量
    头可拆卸,维护保养容易

统计分析功能强大

Xbar-R均值极差控制图、分布概率直方
   图、平均值、标准差、CPK等常用统计参数
按被测产品独立统计,可追溯性品质管理,
    可记录产品条码或编号,由此追踪到该编号
    产品当时的印刷、锡膏、钢网、刮刀等几乎
    所有制程工艺参数。规格参数可自主

     


 

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