欢迎来电咨询。主要应用于各种固体材料体相杂质的直接测量，包括镀层，涂层和薄膜，也就是用于纯度分析和杂质分析检测面积：40－200平方毫米（消耗50微米厚度的样品）检测极限：ppb 级别 检测范围：73种元素主要适合以下产品：高纯材料
合金碳及石墨材料半导体材料 （硅）氧化物，碳化物，及陶瓷材料粉末状样品损坏面积：厚度50微米，面积块状样品：大于20mm尺寸不足的样品（粉末颗粒等）增加制样费1000元（因为需要用到7个9的铟）金属样品 rmb 4500半导体样品（si ,GaAs） rmb 5000非导体(氧化物，碳化物，石墨，陶瓷材料) rmb 5500如指定元素小于等于25个,费用分别是以上费用的0.8倍。
