琼
专业：碳膜电阻开路失效分析，咨询：，李琼，贸易通：my2008t，QQ:
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通过外观检查，CT扫描分析，去封装后光学检查，SEM/EDS分析，切片分析等手段，分析认为导致电阻开路的原因应为氧化腐蚀。碳膜电阻开路失效分析
分析方法简述
通外观检查、CT扫描未发现电阻器存在基体断裂、引线帽与电阻体有脱落等导致其开路的现象。碳膜电阻开路失效分析
导致电阻开路的原因应为氧化腐蚀引起，异常变色区域的C含量较低，O含量较大，同时含有少量K离子及坑陷现象，说明该变色异常区域发生了局部薄弱区域的氧化腐蚀，导致碳膜损伤而开路。氧化腐蚀失效属于缓慢失效，只有在多种综合因素的作用下才会发生的偶发性的小概率失效问题，这也与客户端失效概率相一致（约十五万分之一）。有机材料保护层无法完全防止透湿，高温高湿是电阻器氧化失效的一个重要诱因，可采取在电阻器外加保护套的方式延缓其透湿的进程。碳膜电阻开路失效分析
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