电子电路失效分析内部形貌观察

  • 发布时间:2024-03-20 00:00:00,加入时间:2012年06月04日(距今4377天)
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电子电路失效分析

适用产品:

1.电子元器件包括元件(电阻、电容、继电器、开关、连接器等)、分立器件(二极管、三极管、MOSFET等)、集成电路(小、中、大、超大规模集成电路等)、微波器件、模块(电源模块、功率模块、频率模块等)、电路板及其组件。
2.PCB板:金属基板、柔性电路板、无卤素基板
3.PCBA:通孔焊接、SMT组装、BGA组装、MEMS
 
 

检测项目:

1.电子电路产品的机械性能、热学性能、电学性能、化学性能及可靠性分析;
2. 电子电路产品长期使用可靠性产品评测;
3. 电子电路产品使用过程失效后从物理及化学角度进行分析。
 
 

基本程序:

1. 信息收集(失效前后的背景资料);
2. 外观检查失效前后产品的差异(金相和体式显微镜)
3. 电性能测试(参数测试、功能测试等);
4. 非破坏性物理分析(X-Ray、X-SAM等);
5. 开封及去层(机械开封、化学开封与离子蚀刻);
6. 内部形貌观察(立体显微镜、金相显微镜、SEM、切片);
7. 内部电路分析(探针、FIB、电参数测试);
8. 其他分析与实验验证(SEM-EDS、TTIR、XPS等)
9. 综合分析与结论
 

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