低对比度测试卡北京

  • 发布时间:2025-05-03 09:28:33,加入时间:2013年05月09日(距今4377天)
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产品名称:低对比度测试卡 用途:X射线放射质量控制 低对比度检测 质量控制,QC低对比度测试卡 低对比度测试卡按照国家标准 YY/T 加工制作而成。 19孔低对比度测试模体,符合YY/T 。用于检测X射线机等设备的低对比度 该模体由纯铝组成,模体厚度为20mm; 铝板上均布孔径1cm的孔,共计19组; 孔深从0.07mm到3.2mm. 厂家直销,按照客户要求加工生产 各种 产品。

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