半导体晶体管图示仪/半导体晶体管测试仪YB6600系统特点：
1.图形显示功能 2.局部放大功能
3.程序保护电流/电压,以防损坏 4.品种繁多的曲线
5.可编程的数据点对应 6.增加线性或对数
7.可编程延迟时间可减少器件发热 8.保存和重新导入入口程序
9.保存和导入之前捕获图象 10. 曲线数据直接导入到EXCEL
11.曲线程序和数据自动存入EXCEL 12.程序保护电流/电压,以防损坏
软件支持
测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上YB6600接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。
一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。
YB6600半导体晶体管测试仪指标
1.测 试 电 压： ≤2KV
2.测 试 电 流： ≤50A
3.电 压分辨率： 1mV
4.电流 分辨率： 0.1nA
5.测 试 精 度： 0.2%±2LSB
测试范围
1．双向可控硅（TRIAC） 2．MOS场效应管（Power MOSFET）
3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）4．结型场效应管 （J-FET ）
5．晶体管（Transistor） 6．达林顿阵列(Darliknton)
7．稳压（齐纳）二极管（Zener） 8．二极管(Diode)
9．可控硅整流器（SCR ） 10．三端稳压器（REGULATOR ）
11．光电耦合器（OPTO-COUPLER） 12．双向触发二极管 （DIAC)
13．固态过压保护器（SOVP） 14．继电器（RELAY）
