CY-2015型逆反射标志测量仪

技术条件

1 ．观测角（α）：0.2°；

2．入射角（β）：－4°；

3．光源：暖白色发光二极管

4．探测器：硅二极管（符合CIE的光谱光视效率函数V（λ））；

5．显示器：液晶数字显示表；

6．逆反射系数测量范围：0～1999cd·lx^-1·m^-2。