CMW500测试卡LTE耦合卡支持FDD TDD

  • 发布时间:2019-10-07 14:32:59,加入时间:2015年09月24日(距今3627天)
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LTE测试卡/4G手机测试卡/CMW500测试白卡 
LTE测试白卡为4G主要的综合测试仪器使用的测试卡,它为4G网络提供了一个优良的测试环境。LTE测试白卡不仅从性能和使用寿命上做了很大的改进,还添加了多功能网络的测试,满足了一卡多机的测试,减少了频繁换卡的烦恼,从而提高了生产效率。

主要配合综合测试仪:
罗德和施瓦茨CMU500测试仪
星河亮点4G测试仪
安捷伦4G测试仪

规格参数:85.5*54*0.80
工作温度:-20-60℃
产品包装:中性
拔插次数:理论10万次
产品材质:PVC
产品芯片:CPU卡

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