一、仪器简介及特点
镀膜厚度的纵向、横向均匀度是镀膜制品重要质量和技术指标。镀膜产品的光密度(光密度 = LOG(1/透过率))和镀层厚度成正比例关系，镀层厚度越厚，光密度值越大，透过率值越低。所以可以通过测量镀膜产品的光密度值来达到监控镀膜层的厚度的目的。
LS152广泛应用于卷绕真空镀膜，玻璃镀膜，玻璃生产线，涂布生产线等。
仪器特点：
1、模块化设计，各模块之间采用航空连接器连接，结构简单，现场安装维护方便。仪器具有温度补偿功能，数值稳定，允许在高温环境下使用。
2、防尘设计，对于镀膜过程中的粉尘（如镀铝过程）会影响测量光学系统，该系统采用防尘设计，粉尘不会影响光学系统内部。如有粉尘，只需要定期擦拭清洁光源探头和接收探头的镜头玻璃即可，方便维护。
3、真空室的电子设计，真空环境中，和大气环境下有众多的区别，经过多次真空试验和现场应用，成功解决真空中电子器件的稳定性问题。
4、此仪器提供双路的RS485通信接口，标准的MODBUS通信协议，方便和PLC，单片机，人机界面，组态王，电脑等通信。镀膜机可以直接读取此设备的光密度数据，实现控制自动化(闭环控制)。
5、人机界面，所有测试点数据的实时监控，包含实时显示、柱状图、上下阈值设定、越限报警、RS485通信参数设定等。透过率与光密度的显示可自由切换。
6、 仪器具有自动校准功能和人工校准功能，用户可根据需要自由设置。
仪器结构
设备分为三部分：测控主机、人机界面控制箱、电脑实时监控软件（选配）。
a) 测控主机主要包含光源探头、接收探头、控制器、铝型材机架。
b) 人机界面控制箱主要包含人机界面、电源、不锈钢箱体。
c) 电脑实时监控软件，所有测试点数据的实时监控，包含实时显示、柱状图、上下阈值设定、实时曲线，越限报警等。透过率与光密度的显示可自由切换。
二、技术参数
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技术参数 |
LS152测厚仪 |
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测量波长 |
850nm红外线,530nm绿光可选 |
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测量光斑 |
5mm圆形 |
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透过率测量精度 |
优于±1% |
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透过率分辨率 |
0.005% |
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光密度测量范围 |
0.00 OD --- 5.00 OD |
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光密度分辨率 |
0.01 for 0.00 - 3.00 OD 0.05 for 3.00 - 5.00 OD |
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测量点数 |
45点 |
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相邻探头之间距离 |
最小70mm |
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光源头和接收头之间距离 |
20mm |
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工作温度 |
-10℃ ～ 60℃ |
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存储温度 |
-20℃ ～ 70℃ |
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相对湿度 |
小于85％，不结露 |
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数据刷新周期 |
300ms |
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仪器尺寸 |
长(根据客户要求定制)×宽(80mm)×高(180mm) |
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需真空法兰电极芯数 |
6根(不配电脑监控)/9根(配电脑监控) |
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电源 |
220V AC/50Hz |
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通信 |
双路RS485 |
三、服务
1、仪器保修一年。若仪器出现故障，请用户将整套仪器或损坏的探头寄至本公司维修
2、为用户长期提供零配件，提供终身维修服务
3、为用户免费提供仪器检验服务
4、长期免费提供技术支持
生产制造商：深圳市林上科技有限公司
