IC754CSX06CTD 新增

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IC754CSX06CTD

IC754CSX06CTD

IC754CSX06CTD

并行结构
 
并行结构的数据转换器的基本思想
 
是:同时比较待转换的信号电平与
 
所有级别的量化电平之间的关系,
 
在模拟信号和数字信号之间相互转
 
换。并行结构所对应的A/D和D/A转
 
换器件分别为Flash-ADC和串状DAC
 
 
Flash-ADC内含一列并联比较器,一
 
列由电阻分压器产生的电平作为相
 
应的比较器的基准电压。被转换的
 
模拟电压信号同时加到全部比较器
 
上,各比较器的输出经编码后作为
 
ADC的输出,如图2.12所示。
 
一个分辨率为N(bit)的Flash-ADC
 
含有2N个精密电阻,2N­1个高速比
 
较器;分辨率每增加1bit,需要增
 
加2N个精密电阻和2N个高速比较器
 
,这会大大增加集成的复杂度和器
 
件功耗。因此一般Flash-ADC的分辨
 
率无法达到很高。

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