SGS镀层厚度检测PCB镀层度测试报告

  • 发布时间:2019-06-28 09:04:03,加入时间:2013年06月21日(距今4374天)
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镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。检测方法有 1. 金相法 2. 库仑法 3. X-ray 方法。

金相法

采用金相显微镜检测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于2um,才能保证测量结果在误差范围之内;厚度越大,误差越小。

库仑法

适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

X-ray 方法

适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等金属元素厚度。

由于电镀层的分布受电流密度分布的影响,而电流分布又与镀件的几何形状有关,因此,镀件表面的镀层厚度是不均匀的。这样,在进行镀层厚度测试时,如果不遵循一定的取样原则,就有可能使所测得的镀层厚度没有代表性,因此,在对制件镀层的厚度进行测试时,要根据镀件形状选取合适的检测点。通常一个样件至少一取三个检测点,这三个点的位置应该是分别代表样件上的高电流密度区、低电流密度区和中间电流密度区。然后取这三个点的镀层厚度的算术平均值,作为所测得的镀层厚度的结果。如果要提高测试结果的精确度,就要取更多的有代表性的点,所取的点越多,精确度就越高。   

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