雪崩耐量测试系统

  • 发布时间:2021-07-01 17:14:28,加入时间:2016年05月09日(距今3280天)
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系统概述:

     半导体分立器件作为在电力电子行业中应用最为广泛的基础元件,其性能表现对整个电子电路系统来讲十分重要。选择合适的分立器件就需要该器件能 够承受电路中的电流,满足一定的雪崩耐量。

     雪崩耐量即向半导体的接合部施加较大的反向衰减偏压时,电场衰减电流的流动会引起雪崩衰减,此时元件可吸收的能量称为雪崩耐量,表示施加电压 时的抗击穿能力。电压的尖峰所集中的能量主要由电感和电流所决定,通常的情况下,功率器件都会降额,从而留有足够的电压余量。但是,一些电源在输 出短路时,初级中会产生较大的电流,加上初级电感,器件就会有雪崩损坏的可能,因此在这样的应用条件下,就要考虑器件的雪崩能量。另外,由于一些 电机的负载是感性负载,而启动和堵转过程中会产生极大的冲击电流,因此也要考虑器件的雪崩能量。 

    该测试系统主要用于 IGBT、FRD、MOS器件单脉冲及重复脉冲雪崩能量测试。测试电流 200A,电压 4500V,雪崩能量可达 2000J。测试的电压和电 流波形同时被采集到示波器,并由示波器与工控机直接通讯,将采集数据传输给计算机,计算机经过处理后,将测试数据以 EXCEL 表格形式显示并进行最终 的编辑和打印,同时可观测雪崩波形。设备可满足各种封装形式的功率模块测试需求,并预留电压电流扩展功能。

系统特征:

雪崩能量/电流超限提示

设备配有应急装置

可设置保护电压

可连接handler

测试结果保存为Excel

测试波形采集及显示

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